Inicia en Cuba Simposio Internacional de Metrología
La Habana, 12 jun .- El IX Simposio Internacional de Metrología (Metrología 2014) comienza hoy aquí con conferencias magistrales del director del Buró Internacional de Metrología Legal, Stephen Patoray y Alan E. Johnston, presidente del Buró de Mediciones de Canadá.
El evento es convocado por la Oficina Nacional de Normalización, Ministerio de Ciencia, Tecnología y Medio Ambiente y el Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología para metrólogos, investigadores, tecnólogos, especialistas, ejecutivos, empresarios, productores y comercializadores de instrumentos y sistemas de medición.
Los simposios de metrología se celebran en Cuba desde 1990, con la participación de destacadas personalidades de esa ciencia, así como de organizaciones internacionales y regionales.
Según los organizadores de Metrología 2014, al menos 12 países aseguraron su asistencia al evento, que tendrá lugar hasta el 14 de junio en el Palacio de Convenciones de La Habana, con la participación de unos 350 delegados nacionales y foráneos.
Entre los temas que los especialistas presentarán en este encuentro destacan la actualización del Sistema de Metrología de Cuba, así como el desarrollo de esa ciencia en campos como biofarmacéutica, control energético y la metrología química, una vertiente con poco más de una década de aplicación que cobra cada vez más fuerza a nivel global.
A esta cita en la capital cubana asistirán 12 países miembros del Comité Internacional de Metrología Legal, un organismo compuesto por 57 miembros (entre ellos Cuba) y otros 50 estados participantes.
El director del Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología, Antonio López, dijo que el simposio constituye una oportunidad única de intercambio de experiencias con los países de la región.(PL)
